18971121198
當(dāng)前位置:首頁 > 技術(shù)文章 > MC方案|測量玻璃蓋卡瓦的厚度
光學(xué)膜厚儀 膜厚儀、測厚儀、干涉儀、厚度測量儀
FR的工具基于白光反射光譜(Reports),準(zhǔn)確同步的厚度測量及薄膜的折射率一個(gè)廣泛的多樣化的應(yīng)用范圍廣泛的光電特性的工具和整體解決方案,如:
半導(dǎo)體、有機(jī)電子、聚合物、涂料和涂料、光伏、生物傳感、化學(xué)傳感……
FR-pRo系列
歡迎您關(guān)注我們的微信公眾號(hào)了解更多信息
在線咨詢
電話
微信掃一掃
返回頂部