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當前位置:首頁 > 技術(shù)文章 > MC方案|采用FR系列在光譜范圍內(nèi)測定透明涂層的厚度
光學膜厚儀 膜厚儀、測厚儀、干涉儀、厚度測量儀
FR的工具基于白光反射光譜(Reports),準確同步的厚度測量及薄膜的折射率一個廣泛的多樣化的應(yīng)用范圍廣泛的光電特性的工具和整體解決方案,如:
半導體、有機電子、聚合物、涂料和涂料、光伏、生物傳感、化學傳感……
FR-uProbe系列
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