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簡要描述:全自動八度角積分式立式反射率測試儀SM120,應(yīng)用在電池片制絨工序監(jiān)控環(huán)節(jié),為客戶電池片質(zhì)量品質(zhì)把控,降低損耗提供了有效的檢測方案。
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SM120 立式反射率測試儀
在太陽能電池制造領(lǐng)域,獲得太陽能硅片的反射率對生產(chǎn)的控制及研究有著極其重要的意義,但由于絨面的特殊表面,使得測量其反射率變得十分困難。
我們根據(jù)ISO7724和DIN5033標準結(jié)合多年光譜儀器研發(fā)經(jīng)驗全新推出全自動八度角積分式反射儀SM120正是針對這一問題的解決方案,SM120立式反射率測試儀應(yīng)用在電池片制絨工序監(jiān)控環(huán)節(jié),為客戶電池片質(zhì)量品質(zhì)把控,降低損耗提供了有效的檢測方案。
1.產(chǎn)品特點:
·全自動電腦控制,自動校準,快速準確測量;
·支持全自動二維掃描(Mapping);
·自動計算多點平均反射率;
·超長壽命光源;
·結(jié)構(gòu)設(shè)計合理,操作簡單,維護方便;
·保障設(shè)備穩(wěn)定運行而無需經(jīng)常校準。
2.應(yīng)用領(lǐng)域:
·半導體鍍膜 ·光學鍍膜 ·液晶顯示
·微電子系統(tǒng) ·生物醫(yī)學
3. 選型與規(guī)格參數(shù):
光學膜厚儀通過測量薄膜的光學性質(zhì)來確定膜的厚度。其原理基于薄膜在不同波長的光線下會發(fā)生干涉現(xiàn)象。當光線穿過薄膜時,會發(fā)生反射和透射,反射和透射的光線會發(fā)生干涉,形成明暗條紋。通過測量這些干涉條紋的特征,可以計算出薄膜的厚度。
光學膜厚儀通常使用白光或單色光源照射在薄膜上,然后測量反射光的強度或干涉條紋的間距,從而推斷出薄膜的厚度。這種方法適用于各種類型的薄膜,如光學鍍膜、涂層、光學薄膜等。通過光學膜厚儀可以非常精確地測量薄膜的厚度,廣泛應(yīng)用于光學、電子、材料等領(lǐng)域。
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