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簡要描述:LNP系列高低溫探針臺為小尺寸樣品測量電特性提供高精度可控測量環(huán)境 實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)可靠的測試與測量分析
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LNP系列高低溫探針臺為小尺寸樣品測量電特性提供高精度可控測量環(huán)境。
探針臺是一種測試設(shè)備,用于測試電子元器件、電路板或系統(tǒng)的性能和功能。探針臺通常包括一個(gè)平臺,上面裝有用于連接和測試待測試物品的探針。通過探針臺,可以快速、準(zhǔn)確地檢測出待測試物品的各種參數(shù)和功能,幫助提高生產(chǎn)效率和產(chǎn)品質(zhì)量。在電子制造和測試領(lǐng)域,探針臺被廣泛應(yīng)用。
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